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服务范围

1. 设计仿真服务:

  电学仿真、热管理和热机械可靠性仿真、工艺仿真等。


2. 先进封装设计加工服务:

   8/12英寸晶圆级封装工艺服务:Bumping、WLCSP、FOWLP、TSV、2.5D/3D。

  SiP封装、先进传感器封装、高速高密度封装、高速高频器件封装、特种CIS封装、三维封装

  基板生产:FCCSP 以及FCBGA 相对应的基板封装服务,包含高密度基板、coreless基板、玻璃基板


3.  测试服务及可靠性失效分析服务:

  3.1 电学测试:拥有先进的电学测试设备,可进行信号完整性、电源完整性、模拟、数字、RF、材料电学参数(损耗角、介电常数等)、EMI等电学性能的测试。

  3.2 可靠性测试及失效分析:拥有热冲击/循环实验箱、高速老化箱、DMA、TMA、TGA以及X-ray等先进的失效分析设备,主用于对基板、封装进行温、湿度循环实验以及对失效封装进行分析。

  3.3 热测试平台:拥有微型压缩机、压力传感器、热电偶、冷凝剂、NI控制器、真空泵等热测试设备

4. 工艺结构验证服务:

    华进可以提供如下规格的标准假片;如有其它需求,亦可定制。

RDL        TSV        BumpingOxide WaferCu Wafer



RDL

规格书:

Item

Single Side RDL

Double Side RDL

Min Si Thickness

60um

60um

Copper Thickness

>6um

>6um

Copper Line/Space

Min 10um/10um

Min 10um/10um

Chip Size

Target ±20um

Target ±20um

Min Chip Size

0.6mm×0.3mm

0.6mm×0.3mm

Tape&Reel

Min die thickness 90um

Min die thickness 90um

结构示意图:

20190829_2

20190829_3


TSV

规格书:

Item

TSV 10:100

TSV 20:200

Wafer size

300mm

300mm

Si Thickness

100um±10um

200um±10um

Via size

10um±1.5um

20um±3um

Metal layers

Top side:3
Bottom side:2

Top side:3
Bottom side:2

Copper Line/Space

Min 10um/10um

Min 10um/10um

Micro Bump Pitch

Min 40um

Min 40um

结构示意图:

文本框: TSV20190829_4 


Bumping

规格书:

Item

Wafer Bumping

Wafer Size

300mm/200mm

Bump Pitch

Min 80um

Bump Size

Min 50um

Bump Height

<80um

RDL Line/Space

Min 10um/10um

 

结构示意图:

 

20190830_5


 

Oxide Wafer

规格书:

Item

Oxide Wafer

Oxide Wafer

Wafer size

300mm

200mm

SiO2 Thickness

0.1um~6um

0.1um~6um

 

Cu Wafer

规格书:

Item

Cu Wafer

Cu Wafer

Wafer size

300mm

200mm

Cu Thickness

≥1um

≥1um


5. 战略调研与知识产权服务:

  国际知名调研机构Yole Development公司中国区制定合作伙伴和代理,可提供先进封装相关领域标准或定制调研报告。

  依托公司知识产权服务平台与专业技术团队,可提供先进封装相关领域知识产权调研、分析等服务。